Renishaw Metrology

精準量測，創新之源
工業計量與位置回饋的全球標準

提供高精度光學尺、雷射校正系統與 CMM 測頭解決方案，協助客戶在微米世界中掌握絕對精準度。

Renishaw 產品形象圖

核心技術優勢

先進光學技術

獨特的單軌光學設計與先進的過濾光學鏡片，確保訊號純淨，實現極低細分誤差 (SDE)。

卓越的抗污能力

即便光學尺表面沾染油污、灰塵或刮痕，Renishaw 的智慧演算法仍能確保讀數穩定不中斷。

SET-UP 安裝指示燈

讀頭內建專利 LED 安裝指示燈，透過顏色變化即時顯示訊號品質，大幅縮短設備調校時間。

 
RESOLUTE 光學尺
FLAGSHIP SERIES

RESOLUTE™ 真正絕對式光學尺

打破傳統技術限制，全球首款支援 100 m/s 超高速讀取的精細柵距絕對式光學尺。通電即刻獲取位置，無需歸零，專為高性能直驅馬達與 SMT 設備打造。

1 nm
最高解析度
100 m/s
最高追蹤速度
BiSS
純串列通訊協定
ATOM DX 小型光學尺

ATOM DX™ 小型化光學尺系列

將 Renishaw 經過市場驗證的濾光光學鏡組，整合至微型封裝中。ATOM DX 是目前市面上最小型的增量式光學尺之一，且具備直接數位輸出能力，無需笨重的外部介面盒。

  • ✓ 頂部出線設計，節省安裝空間
  • ✓ 內建細分電子零件，隨插即用
  • ✓ 適用於醫療手臂與微型載台

XL-80 雷射干涉儀校正系統

CMM 與 CNC 工具機校正的黃金標準。XL-80 提供 ±0.5 ppm 的線性量測精度，搭配 XC-80 環境補償單元，即便在溫度劇烈變化的工廠環境中，也能維持實驗室等級的準確度。

ISO 認證標準 6軸同步量測
XL-80 雷射校正
OMP40/60 測頭

高精度工具機測頭系統

透過 OMP40-2 與 OMP60 光學傳輸測頭，實現機上自動化量測。能在加工過程中即時檢測工件尺寸與刀具磨耗，實現閉迴路製程控制，大幅降低廢品率。

  • ✓ 專利 RENGAGE™ 應變計技術
  • ✓ 提升檢測速度與重複精度
  • ✓ 相容於各大廠牌 CNC 控制器

性能數據會說話

30mm
柵距 (Scale Pitch)

單軌絕對式技術

IP64
最高防護等級

無懼油汙與切削液

0.5ppm
雷射量測精度

XL-80 系統指標

完整產品線

Optical Encoders

光學尺與讀頭

包含 RESOLUTE、QUANTiC、ATOM 等系列，提供增量與絕對式位置回饋。

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Laser Interferometers

雷射干涉儀

XL-80 與 XM-60 多軸校正儀，專為 CMM 與工具機幾何誤差補償設計。

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CMM Probes

三次元量測測頭

REVO 5軸量測系統與 PH20 測頭座，大幅提升 CMM 量測通量與效率。

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Machine Tool Probes

工具機測頭

OMP、RMP 系列測頭與 TS 刀具設定儀，實現機上自動化製程控制。

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應用領域

CNC 工具機

CNC 精密加工

電子製造

電子設備製造

半導體設備

半導體晶圓檢測

科學研究

科學研究儀器

FAQ 常見問題

增量式與絕對式光學尺有何不同？ +
增量式需要每次開機尋找原點 (Homing)；Renishaw 的絕對式 (RESOLUTE) 開機即知位置，無需移動，更適合安全與高效率應用。
Renishaw 光學尺的安裝容許度如何？ +
我們的光學尺具備寬廣的安裝公差，且讀頭內建 LED 安裝指示燈，透過顏色 (綠/黃/紅) 即可判斷訊號強度，安裝非常直觀。
這些產品是否支援我的控制器？ +
Renishaw 支援多種通訊協定，包括 BiSS, FANUC, Mitsubishi, Siemens DRIVE-CLiQ, Panasonic 等，廣泛相容於市面主流控制器。
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