RENISHAW (雷尼紹) EVOLUTE™ 絕對式光學尺

Name: RENISHAW (雷尼紹) EVOLUTE™ 絕對式光學尺
SKU: 121

EVOLUTE™ 系列簡介
EVOLUTE™ 是 Renishaw 推出之真正
絕對式非接觸型線性光學尺系統，
採用 50 µm 光學刻距，
提供極寬鬆的安裝公差及強大抗汙性能，
專為快速部署與高可靠性的應用設計。

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核心特性

項目	規格內容
解析度	高達 50 nm（速度至 100 m/s）
精度	±10 µm/m @ 20°C
熱膨脹係數	10.1 ±0.2 µm/m/°C
光學尺週期	50 µm
讀頭尺寸	36 x 16.5 x 17.2 mm
通訊協定支援	BiSS®, Mitsubishi, Panasonic, Yaskawa
細分誤差 SDE	±150 nm
抖動 RMS	< 10 nm
最大速度	100 m/s

光學尺型號	精度	刻距	熱膨脹係數	長度
RTLA50 + FASTRACK	±10 µm/m	50 µm	10.1 ±0.2 µm/m/°C	最長 RTLA50：10.02 m FASTRACK：25 m

安裝彈性高：側邊纜線插座設計，讀頭支援翻轉安裝
直覺式校準：讀頭具備即時 LED 診斷指示燈
支援進階診斷工具 ADTa-100，可透過 ADT View 軟體進行：
- 遠端校準
- 光學尺全軸長訊號分析與最佳化
- 位置數值顯示、匯出與儲存
- 一鍵歸零功能

EVOLUTE 特別適用於以下需求情境：

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