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EVOLUTE™ 光學尺

EVOLUTE 系列根據 Renishaw 經業界認可的絕對式技術而打造，

是真正絕對非接觸式線性光學尺，具有 50 µm 光學尺週期，

可帶來絕佳的安裝公差和更優異的抗汙能力，

非常適合應用在極需高度操作整合性、但安裝速度又相當重要的情況。

特性

l 通訊協定：BiSS®、Mitsubishi、

   Panasonic、Yaskawa

l 讀頭尺寸：36 x 16.5 x 17.2 mm

l 速度高達 100 m/s 時

     能達到 50 nm解析度

l 20 °C 時精度為 ±10 µm/m

l 20 °C 時的光學尺熱膨脹係數：

     10.1±0.2 µm/m/°C

l 提供側邊纜線插座板

優勢

l 超高抗汙能力

l 寬廣的設定公差

l 卓越的運動控制性能

l RMS 抖動低於 10 nm，

      提升位置穩定性

l ±150 nm 細分誤差，速度控制平穩

l 可選擇側邊安裝，且讀頭可翻轉，

     使安裝更具彈性

l 選購的進階診斷工具 (ADT)

光學尺名稱

精度

光學尺刻距

熱膨脹係數（20 °C 時）

供應長度

RTLA50與選購的FASTRACK™

±10 µm/m

50 µm

10.1 ±0.2 µm/m/°C

RTLA50

可達 10.02 m FASTRACK

可達 25 m